[发明专利]用于硅电极部件蚀刻速度和蚀刻均匀性恢复的方法无效
申请号: | 200580044362.X | 申请日: | 2005-12-15 |
公开(公告)号: | CN101137461A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
发明(设计)人: | 黄拓川;任大星;石洪;凯瑟琳·周;晏淳;恩瑞库·麦格尼;严必明;杰罗姆·胡巴塞克;林大正;宋东永 | 申请(专利权)人: | 兰姆研究公司 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余刚;李丙林 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 用于清洁电极部件的方法,该电极部件可用于在清洁之后在等离子蚀刻室中蚀刻介电材料,该方法包括抛光电极部件的硅表面,优选地从硅表面去除黑色硅金属沾污。 | ||
搜索关键词: | 用于 电极 部件 蚀刻 速度 均匀 恢复 方法 | ||
【主权项】:
1.一种清洁用过的电极部件的方法,该电极部件包括等离子外露硅表面,该方法包括抛光该硅表面,其中该清洁从该硅表面去除黑色硅。
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