[发明专利]用于硅电极部件蚀刻速度和蚀刻均匀性恢复的方法无效

专利信息
申请号: 200580044362.X 申请日: 2005-12-15
公开(公告)号: CN101137461A 公开(公告)日: 2008-03-05
发明(设计)人: 黄拓川;任大星;石洪;凯瑟琳·周;晏淳;恩瑞库·麦格尼;严必明;杰罗姆·胡巴塞克;林大正;宋东永 申请(专利权)人: 兰姆研究公司
主分类号: B24B1/00 分类号: B24B1/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余刚;李丙林
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 用于清洁电极部件的方法,该电极部件可用于在清洁之后在等离子蚀刻室中蚀刻介电材料,该方法包括抛光电极部件的硅表面,优选地从硅表面去除黑色硅金属沾污。
搜索关键词: 用于 电极 部件 蚀刻 速度 均匀 恢复 方法
【主权项】:
1.一种清洁用过的电极部件的方法,该电极部件包括等离子外露硅表面,该方法包括抛光该硅表面,其中该清洁从该硅表面去除黑色硅。
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