[发明专利]光纤准直仪系统、光纤准直仪阵列、光纤准直仪系统和光纤准直仪阵列系统的制造方法有效

专利信息
申请号: 200580049105.5 申请日: 2005-04-05
公开(公告)号: CN101156099A 公开(公告)日: 2008-04-02
发明(设计)人: 松村宏善;铃木太郎;阿知波徹 申请(专利权)人: 东洋玻璃株式会社
主分类号: G02B6/32 分类号: G02B6/32
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 吴丽丽
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 将光纤熔接在由含有从Sb2O3、Ta2O5、TiO2或ZrO2中选择的1种以上而作为折射率调整物质的石英玻璃构成的GRIN透镜的一端,形成带GRIN透镜的光纤。由于在将GRIN透镜与光纤粘合时不使用粘着材料,光学特性不会恶化,借助熔接的自排列效果,GRIN透镜和光纤可以容易地调芯。此外,通过使GRIN透镜的折射率分布常数(g)在适当的范围内,可以极大地减少耦合损耗。用这样的带GRIN透镜的光纤装配光纤准直仪系统、光纤准直仪阵列、光纤准直仪阵列系统,可以降低调芯作业的难度,减少耦合损耗,避免光学特性恶化。
搜索关键词: 光纤 准直仪 系统 阵列 制造 方法
【主权项】:
1.一种光纤准直仪系统,其特征在于:使将光纤熔接在由含有从Sb2O3、Ta2O5、TiO2或ZrO2中选择的1种以上而作为折射率调整物质的石英玻璃构成的GRIN透镜(Graded Index透镜)的一端的带GRIN透镜的一对光纤在其GRIN透镜端面对置的情况下一体化的同时,在上述GRIN透镜端面之间设置光学元件。
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