[发明专利]电子部件试验装置无效
| 申请号： | 200580051164.6 | 申请日： | 2005-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN101228449A | 公开（公告）日： | 2008-07-23 |
| 发明（设计）人： | 池田克彦;市川雅理 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 吴丽丽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种为了试验被试验电子部件的电气特性，把被试验电子部件向接触部的插座(301a)传送，使上述被试验电子部件电气性连接该插座的电子部件试验装置，具备：拍摄插座的摄像单元(314)；存储单元(319)，存储由摄像单元拍摄取得的、没有安装被试验电子部件状态下的插座的基准图像数据；残留判定单元(318)，由摄像单元取得插座的检查图像数据的同时，从存储单元读出基准图像数据，把这些检查图像数据与基准图像数据进行比较，判定在插座中是否残留着被试验电子部件。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子部件试验装置，是为了试验被试验电子部件的电气特性，把被试验电子部件传送到接触部的插座上，使上述被试验电子部件与该插座电连接的电子部件试验装置，其特征在于包括：摄像单元，拍摄上述插座；存储单元，存储由上述摄像单元拍摄取得的、在没有安装上述被试验电子部件状态下的上述插座的基准图像数据；和残留判定单元，在由上述摄像单元取得上述插座的检查图像数据的同时，从上述存储单元读出上述基准图像数据，把这些检查图像数据与基准图像数据进行比较，判定在上述插座中是否残留着被试验电子部件。
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