[发明专利]信号传输电路、包括该信号传输电路的半导体器件、该半导体电路器件的设计方法及实现该设计方法的CAD装置有效

专利信息
申请号: 200580051666.9 申请日: 2005-09-22
公开(公告)号: CN101273357A 公开(公告)日: 2008-09-24
发明(设计)人: 上村大树;户坂义春 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;H03K3/037;H03K19/003;H01L21/82
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 张龙哺
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种既确保LSI电路整体的高速动作又提高抗软错误能力的半导体器件以及实现此半导体电路器件的设计方法的CAD装置。本发明的CAD装置,其特征在于,具有:确定LSI电路的各信号传输电路所具有的信号传输时间的单元;确定在各信号传输电路所具有的触发电路被放射线照射时的输出翻转率的单元;确定成为关键路径的信号传输电路的单元;基于信号传输时间、输出翻转率以及时钟周期,计算LSI电路整体的软错误率的单元;在与所述LSI电路整体的软错误率相比预先规定的软错误率小时,降低LSI电路整体的软错误率,使成为关键路径的信号传输电路的信号传输时间不发生变化的单元,从而能够解决上述问题。
搜索关键词: 信号 传输 电路 包括 半导体器件 半导体 器件 设计 方法 实现 cad 装置
【主权项】:
1.一种CAD装置,用于实现半导体电路器件的设计方法,其特征在于,具有:求出LSI电路中的各信号传输电路传输信号的信号传输时间的单元;基于所述信号传输时间,检测最长的最长信号传输时间的单元;基于所述触发电路的关键节点所保持的电荷量,求出所述触发电路的输出信号的逻辑发生翻转的输出翻转率的单元;基于所述信号传输时间、动作时钟周期以及所述触发电路的所述输出翻转率,计算LSI电路的软错误率的单元;在预先规定的软错误率与所述LSI电路的软错误率相比更小时,在所述最长信号传输时间不变的范围内改变所述LSI电路的单元。
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