[发明专利]一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法有效

专利信息
申请号: 200610012051.1 申请日: 2006-05-31
公开(公告)号: CN101083301A 公开(公告)日: 2007-12-05
发明(设计)人: 商立伟;涂德钰;王丛舜;刘明 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L51/40 分类号: H01L51/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 段成云
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于微电子学与分子电子学中的微细加工领域,特别是一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法。其步骤如下:1.在基片表面上淀积绝缘层薄膜;2.在绝缘层薄膜表面上旋涂电子束抗蚀剂,电子束曝光、显影得到下电极图形;3.蒸发制备下电极金属;4.金属剥离得到交叉线下电极;5.在下电极上覆盖生长有机分子薄膜;6.在有机分子薄膜上蒸发制备金属保护层;7.在保护层上面旋涂双层光刻胶,电子束曝光、显影得到上电极图形;8.斜向蒸发制备上电极金属薄膜;9.金属剥离得到交叉线上电极;10.干法刻蚀保护层,完成交叉线有机分子器件的制备。
搜索关键词: 一种 纳米 交叉 阵列 结构 有机 分子 器件 制备 方法
【主权项】:
1、一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法,是由两次电子束光刻、三次金属蒸发、一次有机薄膜沉积生长,两次干法刻蚀,获得交叉线有机分子器件的;其特征在于,其步骤如下:步骤1、在基片表面上淀积绝缘层薄膜;步骤2、在绝缘层薄膜表面上旋涂电子束抗蚀剂,电子束曝光、显影得到下电极图形;步骤3、蒸发制备下电极金属薄膜;步骤4、金属剥离得到交叉线下电极;步骤5、在下电极上覆盖生长有机分子薄膜;步骤6、在有机分子薄膜上蒸发制备金属保护层;步骤7、在保护层上面旋涂双层电子束抗蚀剂,电子束曝光、显影得到上电极图形;步骤8、斜向蒸发制备上电极金属薄膜;步骤9、金属剥离得到交叉线上电极;步骤10、干法刻蚀保护层和有机薄膜层,完成交叉线有机分子器件的制备。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610012051.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top