[发明专利]一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法有效
申请号: | 200610012051.1 | 申请日: | 2006-05-31 |
公开(公告)号: | CN101083301A | 公开(公告)日: | 2007-12-05 |
发明(设计)人: | 商立伟;涂德钰;王丛舜;刘明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L51/40 | 分类号: | H01L51/40 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 段成云 |
地址: | 100029*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于微电子学与分子电子学中的微细加工领域,特别是一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法。其步骤如下:1.在基片表面上淀积绝缘层薄膜;2.在绝缘层薄膜表面上旋涂电子束抗蚀剂,电子束曝光、显影得到下电极图形;3.蒸发制备下电极金属;4.金属剥离得到交叉线下电极;5.在下电极上覆盖生长有机分子薄膜;6.在有机分子薄膜上蒸发制备金属保护层;7.在保护层上面旋涂双层光刻胶,电子束曝光、显影得到上电极图形;8.斜向蒸发制备上电极金属薄膜;9.金属剥离得到交叉线上电极;10.干法刻蚀保护层,完成交叉线有机分子器件的制备。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 交叉 阵列 结构 有机 分子 器件 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法,是由两次电子束光刻、三次金属蒸发、一次有机薄膜沉积生长,两次干法刻蚀,获得交叉线有机分子器件的;其特征在于,其步骤如下:步骤1、在基片表面上淀积绝缘层薄膜;步骤2、在绝缘层薄膜表面上旋涂电子束抗蚀剂,电子束曝光、显影得到下电极图形;步骤3、蒸发制备下电极金属薄膜;步骤4、金属剥离得到交叉线下电极;步骤5、在下电极上覆盖生长有机分子薄膜;步骤6、在有机分子薄膜上蒸发制备金属保护层;步骤7、在保护层上面旋涂双层电子束抗蚀剂,电子束曝光、显影得到上电极图形;步骤8、斜向蒸发制备上电极金属薄膜;步骤9、金属剥离得到交叉线上电极;步骤10、干法刻蚀保护层和有机薄膜层,完成交叉线有机分子器件的制备。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择
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