[发明专利]厚度一致的硅气相外延层的生长装置及生长方法无效

专利信息
申请号: 200610014043.0 申请日: 2006-06-02
公开(公告)号: CN1896340A 公开(公告)日: 2007-01-17
发明(设计)人: 刘玉岭;张建新;黄妍妍 申请(专利权)人: 河北工业大学
主分类号: C30B25/02 分类号: C30B25/02;C30B29/06
代理公司: 天津市三利专利商标代理有限公司 代理人: 肖莉丽
地址: 30013*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种厚度一致的硅气相外延层的生长装置及生长方法,旨在提供一种外延层厚度一致,便于操作,效率高的硅气相外延层的生长装置及生长方法。该生长装置包括基座本体,在基座本体上有安放槽,安放槽底部的边缘有宽度为1~3mm的台阶,台阶上有深度为1~3mm的环形沟槽,环形沟槽最上端的宽度为1~3mm,台阶下有深度为1~5mm的弧形凹坑。该生长方法包括下述步骤:将硅衬底片放入上述基座的安放槽中,并使硅衬底片上表面低于基座上表面0.1~1mm,之后生长外延层。本发明的工艺简单,既能使外延层厚度一致,同时又能控制滑移线的分布面积,并能消除沉积在表面的金属杂质污染层,提高了硅外延片的质量,保证了产品的性能。
搜索关键词: 厚度 一致 硅气相 外延 生长 装置 方法
【主权项】:
1、一种厚度一致的硅气相外延层的生长装置,包括基座本体,所述基座本体上设置有安放槽,其特征在于,所述安放槽底部的边缘处设置有宽度为1~3mm的台阶,所述台阶上设置有深度为1~3mm的环形沟槽,所述环形沟槽最上端的宽度为1~3mm,所述台阶下设置有深度为1~5mm的弧形凹坑。
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