[发明专利]超大规模集成电路多层布线SiO2介质的纳米SiO2磨料抛光液无效

专利信息
申请号: 200610014298.7 申请日: 2006-06-09
公开(公告)号: CN1887997A 公开(公告)日: 2007-01-03
发明(设计)人: 刘玉岭;孙鸣 申请(专利权)人: 河北工业大学
主分类号: C09G1/02 分类号: C09G1/02;H01L21/306;H01L21/768
代理公司: 天津市三利专利商标代理有限公司 代理人: 刘英兰
地址: 30013*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种超大规模集成电路多层布线SiO2介质的纳米SiO2磨料抛光液。该抛光液的组分及重量%如下:磨料:二氧化硅水溶胶固含量:20-45,复合碱:0.5-5.5,渗透剂:1.0-10,表面活性剂:1.0-10,螯合剂:0.5-10,余量:去离子水;将上述各组分逐级混合,搅拌均匀即可。该抛光液的配制主要以小粒径球形纳米无定形SiO2水溶胶作为基本磨料,利用氢氧化钾与多羟多胺有机碱形成的复合碱共同调节抛光液pH值范围至10.5-13.5,且复合碱中有效成分的水解产物能够与SiO2介质发生化学反应,抛光液中的渗透剂与FA/O表面活性剂强化抛光液的表面质量传递作用。该抛光液抛光效率高、周期短、成本低、污染小。
搜索关键词: 超大规模集成电路 多层 布线 sio sub 介质 纳米 磨料 抛光
【主权项】:
1、一种超大规模集成电路多层布线SiO2介质的纳米SiO2磨料抛光液,其特征在于抛光液的组分及重量%如下:磨料:二氧化硅水溶胶固含量:20-45,复合碱:0.5-5.5,渗透剂:1.0-10,表面活性剂:1.0-10,螯合剂:0.5-10,余量:去离子水;将上述各组分逐级混合,搅拌均匀即可。
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