[发明专利]一种用于半导体材料滚圆加工的滚磨液无效
申请号: | 200610014413.0 | 申请日: | 2006-06-23 |
公开(公告)号: | CN101092551A | 公开(公告)日: | 2007-12-26 |
发明(设计)人: | 仲跻和;刘玉岭 | 申请(专利权)人: | 天津晶岭电子材料科技有限公司 |
主分类号: | C09K3/14 | 分类号: | C09K3/14;B24B5/22 |
代理公司: | 国嘉律师事务所 | 代理人: | 高美岭 |
地址: | 300457天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种用于半导体材料滚圆加工的滚磨液,其特征在于:由磨料、pH值调节剂、表面活性剂、螯合剂和去离子水组成,各种成分所占的重量百分比为:磨料5~20%;pH值调节剂20~40%;表面活性剂0.1~1%;螯合剂0.1~1%;去离子水为余量。本发明所提供的滚磨液的优点是:采用无金属离子的表面活性剂和螯合剂,减少了滚圆加工中金属离子沾污;具有高效复合性,高浓缩度和良好的润滑散热性能;用较强的化学腐蚀作用取代部分机械作用,减少应力、降低损伤,有利于设备防护和提高刀具寿命。本发明有效解决了在微电子工艺中普遍存在的金属杂质沾污、损伤层深、加工应力大,影响刀具寿命等技术问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 半导体材料 滚圆 加工 滚磨液 | ||
【主权项】:
1.一种用于半导体材料滚圆加工的滚磨液,其特征在于:由磨料、PH值调节剂、表面活性剂、螯合剂和去离子水组成,各种成分所占的重量百分比为:磨料5~20%;PH值调节剂20~40%;表面活性剂0.1~1%;螯合剂0.1~1%;去离子水为余量。
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