[发明专利]一种在嵌入式系统中测试内存的方法无效
| 申请号： | 200610022731.1 | 申请日： | 2006-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN101211291A | 公开（公告）日： | 2008-07-02 |
| 发明（设计）人： | 何三波 | 申请（专利权）人： | 迈普（四川）通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所 | 代理人： | 李顺德 |
| 地址： | 610041四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及嵌入式系统工装测试中的内存测试技术。本发明所要解决的技术问题是，为降低测试成本，提供一种能对内存进行全面测试的软件控制内存测试的方法。所采用的技术方案是，一种在嵌入式系统中测试内存的方法，包括以下步骤：a.在参数寄存器中设置内存测试标志；b.处理器在ROM中运行基本硬件初始化程序时，判断是否有内存测试标志；若是，进入步骤c；若否，处理器跳转到内存中运行系统初始化程序；c.处理器在ROM中运行内存测试程序对内存进行全面测试；d.测试完毕，保存测试结果；e.应用程序在内存启动，将测试结果输出到用户界面。本发明的有益效果是，不需要硬件提供任何信息，简化了硬件设计和硬件成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 嵌入式 系统 测试 内存 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在嵌入式系统中测试内存的方法，其特征在于，包括以下步骤：a、在参数寄存器中设置内存测试标志；b、处理器在ROM中运行基本硬件初始化程序时，判断是否有内存测试标志；若是，进入步骤c；若否，处理器跳转到内存中运行系统初始化程序；c、处理器在ROM中运行内存测试程序对内存进行全面测试；d、测试完毕，保存测试结果；e、应用程序在内存启动，将测试结果输出到用户界面。
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