[发明专利]微细电加工的微细电极在线检测方法有效

专利信息
申请号: 200610027965.5 申请日: 2006-06-22
公开(公告)号: CN1865916A 公开(公告)日: 2006-11-22
发明(设计)人: 赵万生 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N13/00 分类号: G01N13/00;G01N21/84;G01B21/00
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种微细电加工的微细电极在线检测方法,属于特种加工技术领域。本发明在微细电加工机床上安装6自由度支架,夹持具有1.61μm分辨率和113-729放大率的显微光学成像系统,基于Linux进行微细电极图像采集和处理,并与数控系统进行功能和界面集成,在进行微细电加工时,人工手动或利用G代码自动将微细电极移动到观测区域,观察微细电极的加工状态,测量微细电极的直径。本发明具有检测方便、高效、高精度的特点,为微细电加工技术的发展提供了重要的观测方法,为微细电加工机床的应用提供了重要的工具支持。
搜索关键词: 微细 加工 电极 在线 检测 方法
【主权项】:
1.一种微细电加工的微细电极在线检测方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)显微光学成像系统的设计,采用具有1.61μm的分辨率和113-729的放大率的显微光学成像系统;(2)显微光学成像系统与微细电加工机床的集成,在微细电加工机床上安装6自由度支架夹持显微光学成像系统;(3)基于Linux的微细电极图像采集和处理,基于V4L2 API开发了图像采集模块,采用mmap()方法将设备内存映射到用户进程的地址空间以获取图像数据;基于OpenCV开发了图像处理模块,经图像滤波、去噪之后,通过Canny边缘检测算法提取了微细电极的边界形状,观察微细电极的加工状态的同时测量微细电极的特征尺寸;(4)基于Linux的微细电极图像采集和处理与数控系统的集成,在基于Linux的数控系统人机交互界面中,人工手动或利用G代码自动将微细电极移动到观测区域,观察微细电极的加工状态,测量微细电极的直径。
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