[发明专利]改善化学机械研磨终点检测及检测前道工艺的方法有效

专利信息
申请号: 200610030313.7 申请日: 2006-08-23
公开(公告)号: CN101130235A 公开(公告)日: 2008-02-27
发明(设计)人: 王海军;谢煊;程晓华;杨欣 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: B24B49/10 分类号: B24B49/10
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 顾继光
地址: 201206上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种改善化学机械研磨终点检测及检测前道工艺的方法,设定正确的检知时间范围,一旦检知时间超过设定范围,即时间小于设定的下限或大于等于设定的上限,机台报警并停止研磨,进行检测处理。本发明能够实时检测到产品的终点,及时发现前道非正常工艺以及机台终点检测硬件(设备)异常的问题,减少异常产品的产生。本发明不仅可以适用于利用光学原理的终点检测方法,还可以适用于温度变化原理,电流强度变化原理的终点检测方法。
搜索关键词: 改善 化学 机械 研磨 终点 检测 工艺 方法
【主权项】:
1.一种改善化学机械研磨终点检测及检测前道工艺的方法,其特征在于包括如下步骤:在研磨程序的软件设定中,设定最小研磨时间;当终点检测时记录主研磨步骤研磨时间;将该研磨时间和所述的设定最小研磨时间和最大研磨时间进行比较,当它在设定的最小研磨时间和最大研磨时间之内,则正常;当该研磨时间大于等于最大研磨时间或小于最小研磨时间,则输出信号至报警单元报警,并使机台停止研磨,进行处理。
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