[发明专利]一种含有混合磨料的低介电材料抛光液有效
申请号: | 200610030459.1 | 申请日: | 2006-08-25 |
公开(公告)号: | CN101130666A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
发明(设计)人: | 陈国栋;宋伟红;荆建芬;宋成兵;杨凯平 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02 |
代理公司: | 上海虹桥正瀚律师事务所 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 201203上海市浦东新区张江高*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种含有混合磨料的低介电材料抛光液,该抛光液包括两种或两种以上的抛光磨料,其中一种磨料为掺铝二氧化硅,第二种磨料包括二氧化硅、氧化铝、氧化铝包裹二氧化硅或氧化锆包裹二氧化硅中的一种或多种。本发明的抛光液可以较好地调整低介电材料掺碳氧化硅(CDO)与二氧化硅(TEOS)的抛光速率的同时,防止金属抛光过程中产生的局部和整体腐蚀,提高产品良率。而且能应用在同时含有金属、金属阻挡层、掺碳二氧化硅和二氧化硅结构的集成电路中。 | ||
搜索关键词: | 一种 含有 混合 磨料 低介电 材料 抛光 | ||
【主权项】:
1.一种含有混合磨料的低介电材料抛光液,该抛光液包括两种或两种以上的抛光磨料,其特征在于:其中一种磨料为掺铝二氧化硅,第二种磨料包括二氧化硅、氧化铝、铝包裹二氧化硅或锆包裹二氧化硅中的一种或多种。
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