[发明专利]光电二极管结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 200610077348.6 申请日: 2006-04-29
公开(公告)号: CN101064351A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 施俊吉;王铭义;陈俊伯 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L31/102 分类号: H01L31/102;H01L31/18;H01L27/146;H01L21/82
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供了一种制作光电二极管的方法,该方法包括提供一基底,并形成掺杂区于基底中,另外,形成介电层、第一多晶硅层于基底上。并形成一开口以暴露出部分掺杂区的表面,然后,形成第二多晶硅层于第一多晶硅层上方和开口内。并且,图案化第二多晶硅层以形成导线,再图案化第一多晶硅层以形成栅极,最后形成源极/漏极。
搜索关键词: 光电二极管 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种制作光电二极管的方法,包括:提供基底;形成多个绝缘层于该基底中;形成掺杂区于该基底中,且被该些绝缘层围绕;形成介电层位于该基底上;形成第一导电层于该介电层上;蚀刻该第一导电层和该介电层以形成开口,以暴露出部分该掺杂区的表面;形成第二导电层于该第一导电层上方和该开口内;图案化该第二导电层,以形成导线于该掺杂区的一侧;图案化该第一导电层,以形成栅极于该掺杂区不同于该导线的一侧;以及形成源极/漏极于该栅极不同于该掺杂区的一侧的该基底中。
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