[发明专利]一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法

摘要

一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法，其特征是通过约束的输入精简进行宽度压缩，再通过LFSR和折叠计数器编码进行两维压缩，本发明方法是一种非侵入式的测试数据压缩方法，无需改变被测试的电路结构，尤其是电路中扫描链的结构，将约束输入精简技术，线性反馈移位寄存器LFSR编码和折叠计数器技术有机的结合在一起，降低所需测试数据的存储容量，缩短测试应用时间。

主权项

1、一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法，其特征是通过约束的输入精简进行宽度压缩，再通过LFSR和折叠计数器编码进行两维压缩，具体步骤为：a、对被测电路进行伪随机测试，并运用故障模拟工具确定未测试到的故障；b、采用自动测试模式生成工具ATPG，对所述未测试到的故障生成确定的测试集T；c、将所述测试集T进行约束的输入精简，所述约束的输入精简是，首先将所述测试集T按照多扫描链的形式排列并进行多扫描链相容压缩获得相容压缩组，再将相容压缩后的测试向量按照单扫描链的形式进行重排，重排后的测试集记为TE；两个测试向量是相容的当且仅当它们的对应位相同或有一个为无关位；d、在所述TE中，选取一个测试向量进行LFSR编码，生成LFSR的种子，所生产的LFSR种子即是需要最终存储的测试数据；将由所述LFSR种子展开的测试向量通过折叠计数器再一次展开，获得折叠计数器序列，将所述折叠计数器序列中包含的TE中的测试向量记录下来；e、在TE中找出与步骤d中已经记录下来的测试向量相容的测试向量，并将找出的测试向量从TE中删除掉；f、循环所述步骤d和e，直至TE为空。