[发明专利]测量磁性材料磁感应强度对温度变化特性的方法及装置有效
申请号: | 200610088821.0 | 申请日: | 2006-07-19 |
公开(公告)号: | CN101109720A | 公开(公告)日: | 2008-01-23 |
发明(设计)人: | 朱红毅 | 申请(专利权)人: | 西门子(中国)有限公司 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08;G01N27/72;G01N25/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100102北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及磁共振领域,为了检测磁性材料温度参数,本发明提供了一种测量磁性材料磁感应强度对温度变化特性的方法及装置,本发明方法包括在磁共振装置的有效成像范围内的任意一点A设置探头;在A点设置待测磁性材料,将其与加热单元紧密接触,并将一温度传感器紧贴于待测磁性材料;由温度控制单元根据温度传感器采集的信息调节和控制加热单元对待测磁性材料进行加温;磁共振系统的处理单元实时控制A点探头并接收该磁共振信号送入磁共振系统处理单元,经系统分析后获得A点的磁感应强度;通过测量待测磁性材料在不同温度下A点的磁感应强度,计算待测磁性材料的温度参数。本发明有益效果在于,能够利用磁共振系统方便的测量磁性材料温度参数,并且节省成本。 | ||
搜索关键词: | 测量 磁性材料 感应 强度 温度 变化 特性 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测量磁性材料磁感应强度对温度变化特性的方法,其特征在于包括:一探头置于磁共振系统有效磁场范围内的任意一点A,测量该点磁共振信号并由磁共振系统的处理单元计算该点背景磁感应强度B0;将一待测磁性材料设置在所述A点,磁共振系统的温度控制单元控制一加热单元对所述待测磁性材料进行加温,利用一温度传感器采集所述待测磁性材料的温度,并利用所述探头测量出磁共振信息,所述磁共振系统的处理单元根据该信息计算出所述A点待测磁性材料在不同温度下对应的磁感应强度;将上述每个磁感应强度减去所述背景磁感应强度B0,得到所述待测磁性材料在每个温度下其自身的磁感应强度,从而得到该待测磁性材料的磁感应强度对温度变化的特性。
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