[发明专利]一种测试外壳电路及其设计方法有效
| 申请号： | 200610090243.4 | 申请日： | 2006-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN101102232A | 公开（公告）日： | 2008-01-09 |
| 发明（设计）人： | 李佳;胡瑜;李晓维 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;H04B17/00;H04M3/24 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100080北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试外壳电路，包括至少一条用于测试待测芯核测试数据的测试外壳寄存器链，连接所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路，和连接所述测试外壳寄存器链与外部数据通路之间的互连电路。本发明同时公开了一种测试外壳电路的设计方法。利用本发明，实现了对测试外壳电路的设计，不仅提供了传统测试外壳的测试访问功能，而且根据片上网络测试数据传输的特点进行了优化设计，充分利用了网络通道的带宽，提高了测试的并行性，缩短了测试时间，减少了测试所需的引脚数以及测试面积的开销，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 外壳 电路 及其 设计 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测试外壳电路，其特征在于，该电路包括：至少一条用于测试待测芯核测试数据的测试外壳寄存器链，连接所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路，和连接所述测试外壳寄存器链与外部数据通路之间的互连电路。
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