[发明专利]由微处理器产生模拟信号进行故障电弧自检的方法无效
| 申请号： | 200610106745.1 | 申请日： | 2006-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN101114768A | 公开（公告）日： | 2008-01-30 |
| 发明（设计）人： | 费青 | 申请（专利权）人： | 刘浩铭 |
| 主分类号： | H02H3/00 | 分类号： | H02H3/00;H02H3/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518049广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明是一种故障电弧断路器AFCI(Arc－Fault Circuit－Interrupter)的自检方法，属于电源保护领域。本发明中，当需要对AFCI的故障电弧检测功能进行自检时，由微处理器产生一组故障电弧的模拟脉冲信号，由反馈电路送到信号采样的输入端，经运算放大器放大整形后，将该模拟脉冲信号送回微处理器的输入端，由程序来进行处理和判断，确认该信号为故障电弧后，微处理器发出控制信号使AFCI的执行系统动作，断开电源，完成AFCI故障电弧的自检过程。本发明主要用于检测AFCI的故障电弧信号处理通道、微处理器的故障电弧诊断程序、可控硅执行电路及机械脱扣部分。 | ||
| 搜索关键词： | 微处理器 产生 模拟 信号 进行 故障 电弧 自检 方法 | ||
【主权项】：
1.一种由AFCI(Arc-Fault Circuit-Interrupter)的微处理器U2产生模拟信号来进行故障电弧自检的方法。当需要对AFCI的故障电弧检测功能进行自检时，由微处理器U2产生一组故障电弧的模拟脉冲信号，由反馈电路R26和D11送到信号采样的输入端，经运算放大器U1放大整形后，将该模拟脉冲信号送回微处理器U2的输入端，由程序来进行判断和处理，并驱动脱扣电路动作，完成AFCI故障电弧的自检过程。
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