[发明专利]动态随机存取存储器的电容器接点结构及工艺有效
申请号: | 200610108103.5 | 申请日: | 2006-07-27 |
公开(公告)号: | CN101114616A | 公开(公告)日: | 2008-01-30 |
发明(设计)人: | 苏怡男;杨进盛 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;H01L21/768;H01L27/108;H01L23/522 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;侯宇 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种动态随机存取存储器的电容器接点结构及工艺,此工艺是先提供基底,基底中形成有多个沟渠,各沟渠两侧壁已形成有一介电层,且这些沟渠中包括一第一沟渠。然后,于基底与沟渠的表面上形成一导体层,再于导体层上形成一层图案化光致抗蚀剂层,图案化光致抗蚀剂层填入上述沟渠,并覆盖住第一沟渠。接着,移除暴露出的导体层,而形成多个下电极,然后再移除图案化光致抗蚀剂层。于各下电极上形成一电容介电层,再于基底上形成多个上电极,其填满上述各沟渠。继而,于第一沟渠中的下电极上形成一接触窗,此接触窗藉由下电极而电性连接基底。 | ||
搜索关键词: | 动态 随机存取存储器 电容器 接点 结构 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种动态随机存取存储器工艺,包括:提供基底,该基底中形成有多个沟渠,该些沟渠中包括第一沟渠,且各该沟渠的侧壁已形成有介电层;于该基底与该些沟渠的表面上形成导体层;于该导体层上形成图案化光致抗蚀剂层,该图案化光致抗蚀剂层填入该些沟渠,并覆盖住该第一沟渠;移除暴露出的该导体层,而形成多个下电极;移除该图案化光致抗蚀剂层;于各该下电极上形成电容介电层;于该基底上形成多个上电极,其填满该些沟渠;以及于该第一沟渠中的该下电极上形成接触窗,该接触窗藉由该第一沟渠中的该下电极以电性连接该基底。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造