[发明专利]动态随机存取存储器的电容器接点结构及工艺有效

专利信息
申请号: 200610108103.5 申请日: 2006-07-27
公开(公告)号: CN101114616A 公开(公告)日: 2008-01-30
发明(设计)人: 苏怡男;杨进盛 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L21/8242 分类号: H01L21/8242;H01L21/768;H01L27/108;H01L23/522
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种动态随机存取存储器的电容器接点结构及工艺,此工艺是先提供基底,基底中形成有多个沟渠,各沟渠两侧壁已形成有一介电层,且这些沟渠中包括一第一沟渠。然后,于基底与沟渠的表面上形成一导体层,再于导体层上形成一层图案化光致抗蚀剂层,图案化光致抗蚀剂层填入上述沟渠,并覆盖住第一沟渠。接着,移除暴露出的导体层,而形成多个下电极,然后再移除图案化光致抗蚀剂层。于各下电极上形成一电容介电层,再于基底上形成多个上电极,其填满上述各沟渠。继而,于第一沟渠中的下电极上形成一接触窗,此接触窗藉由下电极而电性连接基底。
搜索关键词: 动态 随机存取存储器 电容器 接点 结构 工艺
【主权项】:
1.一种动态随机存取存储器工艺,包括:提供基底,该基底中形成有多个沟渠,该些沟渠中包括第一沟渠,且各该沟渠的侧壁已形成有介电层;于该基底与该些沟渠的表面上形成导体层;于该导体层上形成图案化光致抗蚀剂层,该图案化光致抗蚀剂层填入该些沟渠,并覆盖住该第一沟渠;移除暴露出的该导体层,而形成多个下电极;移除该图案化光致抗蚀剂层;于各该下电极上形成电容介电层;于该基底上形成多个上电极,其填满该些沟渠;以及于该第一沟渠中的该下电极上形成接触窗,该接触窗藉由该第一沟渠中的该下电极以电性连接该基底。
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