[发明专利]一种光子晶体减慢光速效应的测量方法及测量装置有效
| 申请号： | 200610113328.X | 申请日： | 2006-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN101149289A | 公开（公告）日： | 2008-03-26 |
| 发明（设计）人： | 郑婉华;任刚;邢名欣;王科;杜晓宇;陈良惠 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 高存秀 |
| 地址： | 100080北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光子晶体减慢光速效应的测量方法及测量装置。该方法包括如下步骤：1)在半导体芯片上依次放置一二维半导体光子晶体激光器和一二维半导体光子晶体波导；2)所述激光器产生边发射激光，激光与光子晶体波导耦合；3)激光腔中产生空间烧孔效应，出射多模振荡激光；4)用光纤将出射激光耦合入光栅光谱仪；5)通过分析光谱特征，测得光速减慢信息。该装置包括：一二维半导体光子晶体激光器；一用于泵浦所述激光器的泵浦源；一二维半导体光子晶体波导与所述激光器依次设置在半导体芯片上，所述波导的区域与所述激光器的输出激光场有交叠，使激光与波导耦合；一光纤连接于所述波导与一光栅光谱仪之间。本发明实施简便，成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光子 晶体 减慢 光速 效应 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光子晶体减慢光速效应的测量方法，包括如下步骤：1)在半导体芯片上依次放置一二维半导体光子晶体激光器和一二维半导体光子晶体波导，所述二维半导体光子晶体波导的区域与二维半导体光子晶体激光器的输出激光场有交叠，使激光与波导耦合；2)对所述半导体光子晶体激光器进行泵浦，产生边发射激光，边发射激光与光子晶体波导耦合，实现二维半导体光子晶体激光器与光子晶体波导耦合输出；3)激光腔中产生空间烧孔效应，出射多模振荡激光；4)通过光纤将出射激光耦合入光栅光谱仪；5)通过分析光谱特征，测得光速减慢信息。
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