[发明专利]一种G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法无效
| 申请号： | 200610113758.1 | 申请日： | 2006-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN101162942A | 公开（公告）日： | 2008-04-16 |
| 发明（设计）人： | 沈百林;李红军;张乃罡;张红宇 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/08 | 分类号： | H04B10/08;H04B10/18;H04J14/02 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁挥;徐金国 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法，适用于G.653光纤DWDM系统，其特征在于，包括：步骤一，选择待测试的典型通道；步骤二，通过测试得到所述典型通道的附加色散与通道代价之间的关系曲线；及步骤三，通过分析所述关系曲线得到所述系统的传输性能测试结果。本发明方法和装置，与现有技术相比，由于采取了通过测试附加色散和通道代价的关系曲线的技术措施，达到了全面测试通道传输性能的效果，提高了G.653光纤DWDM系统的传输业务的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 653 光纤 dwdm 系统 传输 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法，适用于G.653光纤DWDM系统，其特征在于，包括：步骤一，选择待测试的典型通道；步骤二，通过测试得到所述典型通道的附加色散与通道代价之间的关系曲线；及步骤三，通过分析所述关系曲线得到所述系统的传输性能测试结果。
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