[发明专利]无测试管脚接触式CPU卡测试方法

摘要

本发明提供一种无测试管脚接触式CPU卡测试方法，主要应用于程序存储器是电可擦写存储器的CPU卡。通过IC卡的IO管脚将对程序存储器的擦写控制信号以及擦写的地址、数据串行的送入，完成对程序存储器的擦写功能。这样芯片的功能测试程序就可以通过IO串行送入并写入程序存储器中，再运行程序存储器中的功能测试程序就可以完成对芯片的功能测试了。本测试方式中测试管脚复用了IC卡的标准管脚，不会增加单独的芯片测试管脚，这样既增加了芯片的安全性又可以减小芯片的面积。

主权项

1.无测试管脚接触式CPU卡测试方法主要是通过IO管脚将芯片的功能测试程序串行送入芯片，再通过测试电路写入到程序存储器中，然后CPU执行写入到程序存储器中的功能测试程序，其特征在于：通过IC卡的双向IO管脚将功能测试程序串行送入到串行输入寄存器组(1)，将串行送入的数据暂存到(1)中，紧接着再将其写入到并行寄存器组(2)，在(2)中区分出对程序存储器的擦写控制信号以及地址和数据再并行送往程序存储器(3)从而将功能测试程序写入到程序存储器中，运行(3)中的测试程序并将运行的结果写入到串行输出寄存器(4)中，再由双向的IO管脚将(4)中的测试结果串行的送出，由测试机来监控输出结果的正确性。