[发明专利]高密度等离子体化学气相淀积方法有效
申请号: | 200610116845.2 | 申请日: | 2006-09-30 |
公开(公告)号: | CN101153386A | 公开(公告)日: | 2008-04-02 |
发明(设计)人: | 冯明;杨海涛;平延磊 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | C23C16/513 | 分类号: | C23C16/513;C23C16/448;C23C16/52;H01L21/205;H01L21/365 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 逯长明 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种高密度等离子体化学气相淀积方法,通过向反应室中通入淀积气体进行淀积反应;所述淀积气体包括第一反应气体、第二反应气体、氦气及氢气,所述第二反应气体及氦气在淀积反应开始之前已通入所述反应室中;所述氢气在所述第一反应气体之后通入反应室。通过控制氢气的通入时间,即将氢气的通入时间控制在第一反应气体通入之后,继而控制反应进程,抑制了微粒缺陷的产生;此外,通过控制氢气的通入过程,即控制氢气使其缓慢通入,使得反应室可平稳地补充缓冲气体,使淀积反应过程可进行得更为均匀。 | ||
搜索关键词: | 高密度 等离子体 化学 气相淀积 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高密度等离子体化学气相淀积方法,通过向反应室中通入淀积气体进行淀积反应;所述淀积气体包括第一反应气体、第二反应气体、氦气及氢气,所述第二反应气体及氦气在淀积反应开始之前已通入所述反应室中;其特征在于:所述氢气在所述第一反应气体之后通入反应室。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的