[发明专利]异步芯片同测方法有效
| 申请号： | 200610117248.1 | 申请日： | 2006-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN101165501A | 公开（公告）日： | 2008-04-23 |
| 发明（设计）人： | 武建宏;黄海华 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种异步芯片同测方法，首先，对被测芯片异步信号的第一位指令进行匹配；其次，通过对先匹配到的芯片的时钟信号控制，使多个异步被测芯片保持同步；之后，再连续比对响应的多位指令，实现多个异步被测芯片同时测试时对多位异步信号的匹配。本发明基于外部时钟控制来实现对异步芯片测试同测方法，缩短芯片的测试时间，提高芯片同测数量和测试频率。 | ||
| 搜索关键词： | 异步 芯片 方法 | ||
【主权项】：
1.一种异步芯片同测方法，其特征在于：首先，对被测芯片异步信号的第一位指令进行匹配；其次，通过对先匹配到的芯片的时钟信号控制，使多个异步被测芯片保持同步；之后，再连续比对响应的多位指令，实现多个异步被测芯片同时测试时对多位异步信号的匹配。
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