[发明专利]一种多晶硅电容耦合OTP器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200610119407.1 申请日: 2006-12-11
公开(公告)号: CN101202283A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 徐向明;龚顺强 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H01L21/822
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁;李隽松
地址: 201206上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种多晶硅电容耦合OTP器件及其制造方法,该OTP器件除包括存储器晶体管(8)、多晶硅浮栅,还包括PIP电容(9),即利用PIP电容代替常规OTP结构中的晶体管电容,并且PIP电容的下电极(6)作为浮栅控制存储器晶体管的沟道,PIP电容的上电极(7)作为浮栅的控制端。本发明由于利用现有工艺中PIP电容,通过改变版图设计与低压逻辑晶体管共同构成OTP器件,并且本发明可完全保持现有PIP工艺不变,不需要特别制作OTP编程所需的高压结,即可实现结构简单、编程效果良好、可靠性高的嵌入式OTP器件。
搜索关键词: 一种 多晶 电容 耦合 otp 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种多晶硅电容耦合OTP器件,包括存储器晶体管、多晶硅浮栅,其特征在于,还包括PIP电容,并且所述PIP电容的下电极作为浮栅控制所述存储器晶体管的沟道,所述PIP电容的上电极作为浮栅的控制端。
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