[发明专利]一种多晶硅电容耦合OTP器件及其制造方法无效
申请号: | 200610119407.1 | 申请日: | 2006-12-11 |
公开(公告)号: | CN101202283A | 公开(公告)日: | 2008-06-18 |
发明(设计)人: | 徐向明;龚顺强 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L21/822 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人: | 丁纪铁;李隽松 |
地址: | 201206上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种多晶硅电容耦合OTP器件及其制造方法,该OTP器件除包括存储器晶体管(8)、多晶硅浮栅,还包括PIP电容(9),即利用PIP电容代替常规OTP结构中的晶体管电容,并且PIP电容的下电极(6)作为浮栅控制存储器晶体管的沟道,PIP电容的上电极(7)作为浮栅的控制端。本发明由于利用现有工艺中PIP电容,通过改变版图设计与低压逻辑晶体管共同构成OTP器件,并且本发明可完全保持现有PIP工艺不变,不需要特别制作OTP编程所需的高压结,即可实现结构简单、编程效果良好、可靠性高的嵌入式OTP器件。 | ||
搜索关键词: | 一种 多晶 电容 耦合 otp 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种多晶硅电容耦合OTP器件,包括存储器晶体管、多晶硅浮栅,其特征在于,还包括PIP电容,并且所述PIP电容的下电极作为浮栅控制所述存储器晶体管的沟道,所述PIP电容的上电极作为浮栅的控制端。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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