[发明专利]一种X射线衍射峰高比的定点测量方法

摘要

本发明涉及X射线衍射峰高比测量方法。本发明公开了一种X射线衍射峰高比的定点测量方法，包括：1)将粉末样品压片，于X射线衍射仪上进行测定，根据其物相组成确定需要求解哪些峰的峰高比来表征材料性能；2)优化定点测量方法求峰高比所用的计数时间；3)常规的连续扫描方法得到样品衍射峰的峰高比结果，4)采用定点测量方法得到样品衍射峰的峰高比结果；5)比较步骤3)和步骤4)测定结果，6)重新制样，采用定点测量方法测定重新制样后样品衍射峰的峰高比。本发明使X射线衍射测定峰高比的准确度和重复性大大提高，从而可以更好了解材料性能，为推断电池的循环寿命和电量储备等提供更为准确的依据。

主权项

1.一种X射线衍射峰高比的定点测量方法，其特征在于包括以下步骤：1)将粉末样品压片，于X射线衍射仪上进行测定，得到样品的X射线衍射谱图，根据其物相组成确定需要求解哪些峰的峰高比来表征材料性能；2)优化定点测量方法求峰高比所用的计数时间；3)通过常规的连续扫描方法得到样品衍射峰的峰高比结果；4)采用定点测量方法得到样品衍射峰的峰高比结果；5)比较步骤3)和步骤4)测定结果，查看采用定点测量方法所获得峰高比重复性与常规连续扫描方法所获得峰高比重复性；6)重新制样，采用定点测量方法测定重新制样后样品衍射峰的峰高比，比较步骤6)与步骤4)测定结果。