[发明专利]工作台组件,包含它的粒子光学设备及处理样品的方法有效
申请号: | 200610143243.6 | 申请日: | 2006-11-01 |
公开(公告)号: | CN1959416A | 公开(公告)日: | 2007-05-09 |
发明(设计)人: | H·G·塔佩尔;I·J·B·希斯范;D·兰克斯;G·N·A·维恩范;R·杨;L·A·吉安努兹 | 申请(专利权)人: | FEI公司 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N13/00;H01J37/20 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 肖春京;杨松龄 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种粒子光学设备,包括:第一源,用来沿第一轴线(A1)产生第一照射束(E);第二源,用来沿第二轴线(A2)产生第二照射束(I),第二轴线在束交叉点与第一轴线相交,第一和第二轴线(A1,A2)确定一个束平面。工作台组件(3),它将样品安置在束交叉点(c)附近,此组件包括:可安装样品的样品台(21);一组致动器,它实现样品台(21)沿以下方向的平动:基本平行于垂直束平面的X-轴线,平行于束平面的Y-轴线,和平行于束平面的Z-轴线,此X-轴线,Y-轴线和Z-轴线相互垂直且通过该束交叉点(c)。其特征是这组致动器安装成可实现:样品台(21)围绕基本平行于Z-轴线的旋转轴线(RA)旋转,和样品台(21)围绕基本垂直于Z-轴线的翻转轴线(FA)旋转,其中翻转轴线(FA)本身可以绕旋转轴线(RA)旋转。 | ||
搜索关键词: | 工作台 组件 包含 粒子 光学 设备 处理 样品 方法 | ||
【主权项】:
1.本发明涉及一种工作台组件(3),它将样品安置在参考点(c)附近,此组件包括:-可安装样品的样品台(21);-一组致动器,它实现样品台(21)沿以下方向的平动:基本平行于垂直参考平面的X-轴线,平行于参考平面的Y-轴线,和平行于参考平面的Z-轴线,此X-轴线,Y-轴线和Z-轴线相互垂直且通过该参考点(c)。其特征是这组致动器安装成可实现:-样品台(21)围绕基本平行于Z-轴线的旋转轴线(RA)旋转,和-样品台(21)围绕基本垂直于Z-轴线的翻转轴线(FA)旋转,其中翻转轴线(FA)本身可以绕旋转轴线(RA)旋转。
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