[发明专利]工作台组件,包含它的粒子光学设备及处理样品的方法有效

专利信息
申请号: 200610143243.6 申请日: 2006-11-01
公开(公告)号: CN1959416A 公开(公告)日: 2007-05-09
发明(设计)人: H·G·塔佩尔;I·J·B·希斯范;D·兰克斯;G·N·A·维恩范;R·杨;L·A·吉安努兹 申请(专利权)人: FEI公司
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N13/00;H01J37/20
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 肖春京;杨松龄
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种粒子光学设备,包括:第一源,用来沿第一轴线(A1)产生第一照射束(E);第二源,用来沿第二轴线(A2)产生第二照射束(I),第二轴线在束交叉点与第一轴线相交,第一和第二轴线(A1,A2)确定一个束平面。工作台组件(3),它将样品安置在束交叉点(c)附近,此组件包括:可安装样品的样品台(21);一组致动器,它实现样品台(21)沿以下方向的平动:基本平行于垂直束平面的X-轴线,平行于束平面的Y-轴线,和平行于束平面的Z-轴线,此X-轴线,Y-轴线和Z-轴线相互垂直且通过该束交叉点(c)。其特征是这组致动器安装成可实现:样品台(21)围绕基本平行于Z-轴线的旋转轴线(RA)旋转,和样品台(21)围绕基本垂直于Z-轴线的翻转轴线(FA)旋转,其中翻转轴线(FA)本身可以绕旋转轴线(RA)旋转。
搜索关键词: 工作台 组件 包含 粒子 光学 设备 处理 样品 方法
【主权项】:
1.本发明涉及一种工作台组件(3),它将样品安置在参考点(c)附近,此组件包括:-可安装样品的样品台(21);-一组致动器,它实现样品台(21)沿以下方向的平动:基本平行于垂直参考平面的X-轴线,平行于参考平面的Y-轴线,和平行于参考平面的Z-轴线,此X-轴线,Y-轴线和Z-轴线相互垂直且通过该参考点(c)。其特征是这组致动器安装成可实现:-样品台(21)围绕基本平行于Z-轴线的旋转轴线(RA)旋转,和-样品台(21)围绕基本垂直于Z-轴线的翻转轴线(FA)旋转,其中翻转轴线(FA)本身可以绕旋转轴线(RA)旋转。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司,未经FEI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610143243.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top