[发明专利]缺陷存储单元的筛选方法有效
| 申请号： | 200610143372.5 | 申请日： | 2006-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN101174472A | 公开（公告）日： | 2008-05-07 |
| 发明（设计）人： | 李明昭;罗棋;李家庆 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 郭蔚 |
| 地址： | 台湾省新竹科学*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种缺陷存储单元的筛选方法，用于一内存上。内存一般划分成许多区块，并以区块为单位作抹除的动作，一区块具有N个存储单元，N为大于1的正整数。N个存储单元系为一第1～N个存储单元。在此方法中，验证第i个存储单元是否抹除成功，i为小于或等于N的正整数。若第i个存储单元抹除成功时，检查第i个存储单元是否为第N个存储单元。若第i个存储单元抹除失败时，抹除N个存储单元一次，并检查第i个存储单元是否为第N个存储单元。若第i个存储单元不是第N个存储单元，验证第i+1个存储单元是否抹除成功。若第i个存储单元是第N个存储单元，表示正常存储单元已抹除完成，对该存储区块作第二次验证以筛除缺陷存储单元。验证第j个存储单元是否抹除成功，j为小于或等于N的正整数。若第j个存储单元抹除验证失败时，筛选第j个存储单元为一缺陷存储单元，并检查该第j个存储单元是否为该第N个存储单元。若第j个存储单元不是第N个存储单元，验证第j+1个存储单元是否抹除成功。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 存储 单元 筛选 方法 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷存储单元的筛选方法，用于一内存上，该内存具有N个存储单元(cells)，N为大于1的正整数，该N个存储单元系为一第1～N个存储单元，该方法包括：验证该第i个存储单元是否抹除成功，i为小于或等于N的正整数；若该第i个存储单元抹除成功时，检查该第i个存储单元是否为该第N个存储单元；若该第i个存储单元抹除失败时，抹除该N个存储单元一次，并检查该第i个存储单元是否为该第N个存储单元；以及若该第i个存储单元不是该第N个存储单元，验证该第i+1个存储单元是否抹除成功。
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