[发明专利]磁盘驱动器的磁头磁极宽度测量方法无效
| 申请号： | 200610146479.5 | 申请日： | 2006-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN101183531A | 公开（公告）日： | 2008-05-21 |
| 发明（设计）人： | 何娜;程新建;陈华俊;李宇 | 申请（专利权）人： | 新科实业有限公司 |
| 主分类号： | G11B5/455 | 分类号： | G11B5/455;G01B11/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 | 代理人： | 郝传鑫 |
| 地址： | 中国香港新界沙田香*** | 国省代码： | 中国香港;81 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种对磁盘驱动器的磁头磁极宽度进行测量的方法，其包括如下步骤：获取磁极表面的原始图像；计算原始图像的光强分布轮廓，确定轮廓的最大及最小光强数据点；将最大光强数据点与最小光强数据点的均值设定为阈值；对轮廓二次微分，从而获得二次微分渐近线；确定二次微分渐近线与阈值的交点；计算交点之间的距离，从而获得初次磁极宽度；对初次磁极宽度进行数据补偿，从而获得补偿后的磁极宽度。本发明方法也可以对其它微观物体的边缘之间的距离进行测量。 | ||
| 搜索关键词： | 磁盘驱动器 磁头 磁极 宽度 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种对磁盘驱动器的磁头磁极宽度进行测量的方法，包括如下步骤：(1)获取磁极表面的原始图像；(2)计算原始图像的光强分布轮廓，确定轮廓的最大及最小光强数据点；(3)将最大光强数据点与最小光强数据点的均值设定为阈值；(4)对轮廓二次微分，从而获得二次微分渐近线；(5)确定二次微分渐近线与阈值的交点；(6)计算交点之间的距离，从而获得初次磁极宽度；及(7)对初次磁极宽度进行数据补偿，从而获得补偿后的磁极宽度。
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