[发明专利]超声波检测近表层缺陷埋藏深度的方法有效
申请号: | 200610147725.9 | 申请日: | 2006-12-21 |
公开(公告)号: | CN101206195A | 公开(公告)日: | 2008-06-25 |
发明(设计)人: | 蒋盛 | 申请(专利权)人: | 上海宝钢工业检测公司 |
主分类号: | G01N29/11 | 分类号: | G01N29/11;G01B17/02 |
代理公司: | 上海天协和诚知识产权代理事务所 | 代理人: | 张恒康 |
地址: | 201900*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种超声波检测近表层缺陷的方法,包括超声波探头及与其连接的计算装置,包括下列步骤:步骤一,将超声波探头至于灵敏度调节试块上表面一侧,并在试块另一侧开设一个距上表面有一定距离的平底孔;步骤二,调节超声波检测灵敏度,将超声波探头移动到上述距离平底孔100mm处,将最高反射波高调至20-50%作为基准高;步骤三,将超声波探头置于被测工件上表面并接收工件表面反射波的波高,计算该反射波高和基准高之差y*,根据测算公式即可求得表面缺陷埋藏深度。无须破坏工件表面。 | ||
搜索关键词: | 超声波 检测 表层 缺陷 埋藏 深度 方法 | ||
【主权项】:
1.一种超声波检测近表层缺陷埋藏深度的方法,包括超声波探头及与其连接的计算装置,其特征在于,所述的方法包括下列步骤步骤一,将超声波探头至于灵敏度调节试块上表面一侧,并在试块另一侧开设一个距上表面有一定距离的平底孔;步骤二,调节超声波检测灵敏度,将超声波探头移动到上述距离平底孔100mm处,将最高反射波高调至20-50%作为基准高;步骤三,将超声波探头置于被测工件上表面并接收工件表面反射波的波高,计算该反射波高和基准高之差y*,根据测算公式即可求得表面缺陷埋藏深度。
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