[发明专利]处理系统及其等离子体产生装置有效

专利信息
申请号: 200610153707.1 申请日: 2006-09-14
公开(公告)号: CN101146397A 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 刘志宏;谢文宗;蔡陈德;苏濬贤;陈志玮;林春宏 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: H05H1/24 分类号: H05H1/24;H01L21/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种处理系统,利用第一流体对于物件进行处理。处理系统包括基座与等离子体产生装置。基座用以承载物件。等离子体产生装置用以对于第一流体进行离子化。等离子体产生装置包括至少一导引组件与至少一电极组件。导引组件包括路径,第一流体沿着路径依序通过第一位置与第二位置。电极组件包括第一电极与第二电极,在第一电极相对于第一位置、第二电极相对于第二位置之下,第一电极、第二电极对于第一位置与第二位置之间的第一流体进行激能后形成了第二流体,第二流体对于基座上的物件进行表面处理、活化、清洁、光致抗蚀剂灰化或蚀刻处理。
搜索关键词: 处理 系统 及其 等离子体 产生 装置
【主权项】:
1.一种等离子体产生装置,用以对于第一流体进行离子化,该等离子体产生装置包括:至少一导引组件,包括一路径,该第一流体沿着该路径依序通过第一位置与第二位置;以及至少一电极组件,包括第一电极与第二电极,在该第一电极相对于该第一位置、该第二电极相对于该第二位置之下,该第一电极、该第二电极对于该第一位置与该第二位置之间的该第一流体进行激能后形成了第二流体,其中,该第一流体的能量状态不同于该第二流体的能量状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于财团法人工业技术研究院,未经财团法人工业技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610153707.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top