[发明专利]激光参数测量装置

摘要

本发明涉及一种激光参数测量装置，包括：被测激光源、用于发射作为参考标准的连续激光的参考激光源、用于对被测激光及连续激光进行漫反射的漫反射成像光靶、用于接收被测激光与连续激光的漫反射激光的视频信号的图像获取装置、用于根据被测激光与连续激光的漫反射激光的视频信号获取被测激光与连续激光的漫反射激光的灰度图像的图像采集装置、存储连续激光的漫反射激光在被测位置的光斑直径，根据被测激光与连续激光的漫反射激光的灰度图像的比值以及连续激光的漫反射激光的光斑直径，获取被测激光在被测位置的光斑直径的控制处理装置，以及显示测得的激光参数的显示装置。采用本发明，可以实现对远场、光斑直径较大时的整光斑参数的实时测量。

主权项

1、一种激光参数测量系统，包括被测激光源，其特征在于，还包括：参考激光源，用于发射作为参考标准的连续激光；漫反射成像光靶，设置于所述连续激光与所述被测激光源发射的被测激光的光路中、所述被测激光的被测位置，用于对所述被测激光及所述连续激光进行漫反射；图像获取装置，设置于所述被测激光与所述连续激光的漫反射光路中，用于接收所述被测激光与所述连续激光的漫反射激光的视频信号；图像采集装置，设置在所述图像获取装置的输出光路中，用于根据所述被测激光与所述连续激光的漫反射激光的视频信号获取所述被测激光与所述连续激光的漫反射激光的灰度图像；控制处理装置，与所述图像采集装置连接，用于存储所述连续激光的漫反射激光在所述被测位置的光斑直径，根据所述被测激光与所述连续激光的漫反射激光的灰度图像的比值以及所述连续激光的漫反射激光的光斑直径，获取所述被测激光在所述被测位置的光斑直径；显示装置，与所述控制处理装置连接，用于显示所述控制处理装置获取的所述被测激光的参数。