[发明专利]存储器测试的方法有效
| 申请号： | 200610170353.1 | 申请日： | 2006-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN101097783A | 公开（公告）日： | 2008-01-02 |
| 发明（设计）人： | 庄建祥 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器测试的方法，用以测试有多个单元板及多个位线板的存储器，包括下列步骤：将存储器置于测试模式；套用测试样本至存储器；当写入“1”到既定单元时，提供第一电压到单元板，第一电压高于一正供应电压的一半；当写入“0”到既定单元时，提供第二电压到单元板，第二电压低于正供应电压的一半。第一及第二电压用以模拟存储器单元中较弱的电荷储存单元。当预期由既定单元中读取“1”时，提供第三电压到位线板，第三电压高于正供应电压的一半；当预期由既定单元中读取“0”时，提供第四电压到位线板，第四电压低于正供应电压的一半。第三及第四电压用以模拟存储器单元的电荷衰退。本发明大致不会对测试时间造成任何负担。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储器测试的方法，其特征在于，用以测试一存储器，该存储器具有多个电荷储存单元耦接至多个位线、一或多个单元板以及一或多个位线板，其中所述单元板用以偏压所述电荷储存单元，所述位线板用以偏压所述位线，该存储器测试的方法包括下列步骤：将该存储器置于一测试模式；套用一测试样本至该存储器；当写入一个‘1’到一既定单元时，提供一个第一电压到该单元板，其中该第一电压是高于一正供应电压的一半；以及当写入一个‘0’到该既定单元时，提供一个第二电压到该单元板，其中该第二电压是低于该正供应电压的一半；其中该第一电压以及该第二电压是用以模拟存储器单元里的弱电荷储存。
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