[发明专利]测量太赫兹时域光谱的方法及设备有效
申请号: | 200610171670.5 | 申请日: | 2006-12-31 |
公开(公告)号: | CN101210874A | 公开(公告)日: | 2008-07-02 |
发明(设计)人: | 李元景;冯兵;赵自然;王迎新;俞冬梅 | 申请(专利权)人: | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01J3/28 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种测量太赫兹时域光谱的方法及设备,涉及太赫兹时域光谱领域。该方法包括步骤:以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束,用于产生太赫兹脉冲;以所述重复频率从第二飞秒激光器发出第二脉冲激光束;测量在所述第一脉冲激光束与所述第二脉冲激光束之间的各个相位差处的太赫兹脉冲的电场强度;以及通过对表示所述电场强度的数据进行傅立叶变换来得到太赫兹时域光谱。同现有技术相比,本发明在保持高探测带宽的同时能保持高的频谱分辨力,从而使装置鉴别物质的能力优于其它同类装置。 | ||
搜索关键词: | 测量 赫兹 时域 光谱 方法 设备 | ||
【主权项】:
1.一种测量太赫兹时域光谱的方法,包括步骤:以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束,用于产生太赫兹脉冲;以所述重复频率从第二飞秒激光器发出第二脉冲激光束;测量在所述第一脉冲激光束与所述第二脉冲激光束之间的各个相位差处的太赫兹脉冲的电场强度;以及通过对表示所述电场强度的数据进行傅立叶变换来得到太赫兹时域光谱。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学;同方威视技术股份有限公司,未经清华大学;同方威视技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610171670.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。