[实用新型]行场扫描电路无效

专利信息
申请号: 200620016347.6 申请日: 2006-12-07
公开(公告)号: CN200976632Y 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: 张颐辉 申请(专利权)人: 深圳创维-RGB电子有限公司
主分类号: H04N3/23 分类号: H04N3/23;H04N3/20;H04N3/16
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 代理人: 张全文
地址: 518000广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种行场扫描电路,包括X射线保护电路、场偏转线圈、场S校正电容及三极管Q1,所述X射线保护电路的一端与FBT连接,另一端与所述三极管Q1的b极连接,所述三极管Q1的e极接地,c极与MCU连接;所述场偏转线圈与所述场S校正电容连接之后与所述三极管Q1的b极连接,所述行场扫描电路还包括二极管D2,所述二极管D2的正极与所述场S校正电容连接,负极与所述三极管Q1的b极连接。本实用新型通过增加与场S校正电容连接的二极管D2,在场S校正电容短路时,场S校正电容正极的直流电压通过二极管D2使Q1饱和导通,Q1集电极电位下降为零,MCU检测到低电平后发出待机命令,进而保护CRT不被破坏。
搜索关键词: 扫描 电路
【主权项】:
1、一种行场扫描电路,包括X射线保护电路、场偏转线圈、场S校正电容及三极管Q1,所述X射线保护电路的一端与FBT连接,另一端与所述三极管Q1的b极连接,所述三极管Q1的e极接地,c极与MCU连接;所述场偏转线圈与所述场S校正电容连接之后与所述三极管Q1的b极连接,其特征在于,所述行场扫描电路还包括二极管D2,所述二极管D2的正极与所述场S校正电容连接,负极与所述三极管Q1的b极连接。
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