[实用新型]电路测试装置无效
| 申请号： | 200620133191.X | 申请日： | 2006-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN201007737Y | 公开（公告）日： | 2008-01-16 |
| 发明（设计）人： | 滕贞勇;许益彰;蒋维棻;林杨铭;张立颖 | 申请（专利权）人： | 普诚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3167 | 分类号： | G01R31/3167;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王志森;黄小临 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种电路测试装置，用来测试一待测试元件。该电路测试装置包含有一滤波电路、一放大电路、一比较模块、以及一结果检测模块。该滤波电路对该待测试元件所产生的一模拟输出信号进行滤波以产生一滤波信号。该放大电路对该滤波信号进行放大以产生一放大信号。该比较模块比较该放大信号与至少一参考电平以据以产生至少一结果信号。该结果检测模块则通过检测该至少一结果信号以决定该待测试元件的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电路测试装置，用来测试一待测试元件，其特征在于，该电路测试装置包含有：一滤波电路，耦接于该待测试元件，用来对该待测试元件所产生的一模拟输出信号进行滤波以产生一滤波信号；一放大电路，耦接于该滤波电路，用来对该滤波信号进行放大以产生一放大信号；一比较模块，耦接于该放大电路，用来比较该放大信号与至少一参考电平以据以产生至少一结果信号；以及一结果检测模块，耦接于该比较模块，用来检测该至少一结果信号以决定该待测试元件的测试结果。
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