[发明专利]电子元器件测试设备无效
| 申请号： | 200680000900.X | 申请日： | 2006-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN101031808A | 公开（公告）日： | 2007-09-05 |
| 发明（设计）人： | 浅野功;丹国广 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H05K13/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王冉;王景刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种电子元器件测试设备包括第一触头，该第一触头排列成第一触头的第一端位置上对应于在电子元器件表面上排列的电极焊点；基板电极，该基板电极与第一触头的第二端相接触；以及一个或多个第二触头，每个所述第二触头在其中一个第一触头的第一端和第二端之间并更靠近所述其中一个第一触头的第一端的位置处电连接到所述其中一个第一触头上。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 测试 设备 | ||
【主权项】：
1.一种电子元器件测试设备，包括：第一触头，该第一触头排列成第一触头的第一端位置上对应于在电子元器件表面上排列的电极焊点；基板电极，该基板电极与第一触头的第二端相接触；以及一个或多个第二触头，每个所述第二触头在其中一个第一触头的第一端和第二端之间并更靠近所述其中一个第一触头的第一端的位置处电连接到所述其中一个第一触头上。
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