[发明专利]颗粒分级设备以及含有由该设备所分级的颗粒的粘合剂无效
| 申请号： | 200680001105.2 | 申请日： | 2006-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN101052477A | 公开（公告）日： | 2007-10-10 |
| 发明（设计）人： | 小山惠司;桑原铁也;芳贺优;柏原秀树 | 申请（专利权）人： | 住友电气工业株式会社 |
| 主分类号： | B07C5/10 | 分类号： | B07C5/10;B01F11/02;B03C1/00;B03C1/26;C09J9/02;C09J201/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王冉;魏晓刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于精确地将统一长度的颗粒分级的颗粒分级设备，以及含有由该设备分级的颗粒的粘合剂，该粘合剂能够在低压下连接电极，并可应用于设置成细小节距的电极。颗粒分级设备(1)包括分散装置(2)，该分散装置用于分散许多颗粒(P)；颗粒定向装置(3)，该定向装置将各个分散的颗粒沿着转移方向(X)定向，同时沿着颗粒的转移方向(X)将颗粒相互间隔开；颗粒长度测量装置(4)，该测量装置测量定向在转移方向(X)上的各个颗粒(P)的长度；和颗粒分离装置(5)，该分离装置基于有关测量的颗粒(P)长度数据来分离具有预定长度的颗粒(P)。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 分级 设备 以及 含有 粘合剂 | ||
【主权项】：
1.一种颗粒分级设备，其特征在于包括分散装置，其用于将许多颗粒分散；颗粒定向装置，其用于将分散的各个颗粒定向在预定方向上，并同时沿着该预定方向使颗粒相互间隔开；颗粒长度测量装置，其用于测量定向在预定方向上的各个颗粒的长度；以及颗粒分离装置，其用于基于有关测量的颗粒长度的数据将具有预定长度的颗粒从分散的颗粒中分离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友电气工业株式会社，未经住友电气工业株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200680001105.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
