[发明专利]半导体集成电路有效

专利信息
申请号: 200680001466.7 申请日: 2006-10-17
公开(公告)号: CN101091314A 公开(公告)日: 2007-12-19
发明(设计)人: 炭田昌哉 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H03K3/3562 分类号: H03K3/3562;H03K19/017;H03K19/096;H03K19/20
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 季向冈
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在带有数据选择功能的动态式触发电路中,当例如由选择信号(S0)选择了高电平的数据(D0)时,第一节点(N1)变为低电平,第二动态电路(1B)的第二节点(N2)变为高电平,输出信号(Q)变为高电平。在这样的状态下,当选择信号(S0~S2)未选择多个数据(D0~D2)中的任何一个时,变为如下状态,即第一节点(N1)变为高电平,上述第二节点(N2)中的电荷被放电,输出信号(Q)误动作为低电平。但是,在这样的情况下,输出节点(N3)变为高电平,第四节点(N4)变为低电平,上述第二动态电路(1B)的n型晶体管(Tr6)截止,第二节点(N2)的放电被阻止。因此,能够很好地确保动作的高速性,并且即使在多个数据均未被选择的情况下也能够正常动作。本电路被用于预定的电路,例如数据通路的发送通路、纵横总线接线器或可重新配置的处理部件的输入部。
搜索关键词: 半导体 集成电路
【主权项】:
1.一种半导体集成电路,输入时钟、多个数据以及选择上述各个数据的多个选择信号,当上述时钟转变时,将由上述选择信号选择出的1个数据输出到保持电路,其特征在于,其包括:用于检测上述多个选择信号均未选择上述多个数据中的任何一个的状态的非选择状态检测电路,当在上述非选择状态检测电路中检测出上述多个选择信号均未选择上述多个数据中任何一个的状态时,通过防止上一次选择出的数据发生变化来保持上述保持电路的输出数据,并且,上述半导体集成电路被用于预定电路。
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