[发明专利]测量涂覆量的方法和预测溶出行为的方法无效
| 申请号： | 200680002747.4 | 申请日： | 2006-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN101107510A | 公开（公告）日： | 2008-01-16 |
| 发明（设计）人： | 横山诚;鹈饲宏治 | 申请（专利权）人： | 卫材R&D管理有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;A61K9/36;A61K47/10;A61K47/12;A61K47/14;A61K47/34;A61K47/38;G01N33/15 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 林柏楠;刘金辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 使用近红外光谱的评测方法通常具有低的特异性，并特别在痕量成分的评测中遇到困难。通过近红外光谱法精确测量涂覆物的量一直是困难的。为解决此问题，根据涂在涂覆对象上的添加剂在800至1100纳米波长范围内的光吸收或散射测量施用到涂覆对象(例如颗粒或未涂覆片剂)上的涂覆物的量。优选使用聚乙二醇或含长链烃基的化合物作为该添加剂。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 涂覆量 方法 预测 行为 | ||
【主权项】：
1.测量施用到涂覆对象上的涂覆物的量的方法，包括利用涂在涂覆对象上的添加剂测量800至1100纳米波长范围的光的吸收或散射，以获得测量值。
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