[发明专利]Ⅲ/Ⅴ半导体无效

专利信息
申请号: 200680003007.2 申请日: 2006-01-26
公开(公告)号: CN101268592A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: B·库纳特;J·科克;S·赖恩哈德;K·沃茨;W·斯托尔茨 申请(专利权)人: 马尔堡菲利普斯大学
主分类号: H01S5/026 分类号: H01S5/026;H01S5/323
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曾祥夌;陈景峻
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及包含基于掺杂Si或掺杂GaP的载体层和安排在所述载体层上并含有成分Gaxlny-NaAsbPcSbd的III/V半导体的单片集成半导体结构,其中x=70-100摩尔%,y=0-30摩尔%,a=0.5-15摩尔%,b=67.5-99.5摩尔%,c=0-32.0摩尔%,以及d=0-15摩尔%。根据本发明,x和y总是合计为100摩尔%,且a、b、c和d总是合计为100摩尔%。x和y的总和与a、b、c和d的总和之比基本上等于1∶1。本发明还涉及用于产生所述半导体结构的方法,并涉及用其来产生被单片集成到基于Si或GaP技术的集成电路中的发光二极管和激光二极管,或调制器和检测器结构。
搜索关键词: 半导体
【主权项】:
1. 一种单片集成半导体结构,包括以下层结构:A)基于掺杂或未掺杂Si或GaP的载体层,B)作为选择,由掺杂Si、掺杂GaP或掺杂(AlGa)P组成的第一电流传导层,C)作为选择,第一适应层,以及D)包含由具有成分GaxInyNaAsbPcSbd的III/V半导体形成的半导体层的旋光元件,其中,x=70-100摩尔%,y=0-30摩尔%,a=0.5-15摩尔%,b=67.5-99.5摩尔%,c=0-39.5摩尔%和d=0-15摩尔%,其中x和y的总和始终是100摩尔%,其中a、b、c和d的总和始终是100摩尔%,并且其中一方面x和y的总和与另一方面a至d的总和之比基本上是1∶1。
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