[发明专利]可测试电子电路无效
| 申请号： | 200680003809.3 | 申请日： | 2006-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN101163978A | 公开（公告）日： | 2008-04-16 |
| 发明（设计）人： | 埃尔韦·弗勒里;让－马克·延努 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种电子电路，包括：连接到电路的数据端(11a－c)、以及连接到功能电路(10)的触发器组(12a－c)。每一个组(12a－c)都具有用于对该组中的触发器提供时钟的时钟输入端。每一个组(12a－c)都可以在移位配置和功能配置之间切换，以便串行地从数据端移入测试数据，而且并行地用于分别将信号提供给功能电路(10)和/或分别从功能电路(10)接收信号。测试控制电路(16)可以在功能模式、测试移位模式和测试正常模式之间切换。测试控制电路(16)连接到触发器组(12a－c)，以在功能模式下将该组切换到功能配置，以及在测试移位模式下将该组切换到移位配置。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电子电路 | ||
【主权项】：
1.一种可测试电子电路，包括-多个数据端(11a-c)；-功能电路(10)；-多个触发器组(12a-c)，连接到数据端(11a-c)以及功能电路(10)，每个触发器组具有用于向该组(12a-c)的触发器提供时钟的时钟输入端，每个组可在移位配置和功能配置之间进行切换，以从数据端(11a-c)串行地移入测试数据，而且并行地用于分别将信号提供给功能电路(10)和/或分别从功能电路(10)接收信号；-测试控制电路(16)，可以在功能模式、测试移位模式和测试正常模式之间切换，所述测试控制电路(11)连接到触发器组(12a-c)，以在功能模式下将所述组切换到功能配置，以及在测试移位模式下将所述组切换到移位配置；-时钟多路复用电路(15a-c、18)，具有连接到数据端(11a-c)的输入端，以及连接到组(12a-c)的时钟输入端的输出端，根据测试控制电路(16)所采取的模式，连接所述测试控制电路(16)以控制时钟多路复用电路(15a-c、18)，时钟多路复用电路(15a-c、18)被设置为：在测试正常模式下，在各个组(12a-c)的时钟输入端处，暂时代入来自各个数据端(11a-c)的时钟信号。
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