[发明专利]为测量系统确定队列匹配问题和根本原因要点有效

专利信息
申请号: 200680006151.1 申请日: 2006-02-22
公开(公告)号: CN101460944A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 查尔斯·N·阿奇;小乔治·W·班克;埃里克·P·索利基 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邸万奎;黄小临
地址: 美国纽*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了用于确定正在测试的测量系统(MSUT)是否匹配包括至少一个其它测量系统的队列的方法、系统和程序产品。本发明实现了用于分析匹配问题的真实参数,包括单工具精度、工具对工具非线性、以及工具对工具偏差。然后,实现将这些参数组合为单值的底线工具匹配精度尺度。本发明还包括用于确定匹配问题的根本原因(s10)、以及用于确定队列测值精度尺度(s4)的方法。
搜索关键词: 测量 系统 确定 队列 匹配 问题 根本原因 要点
【主权项】:
1、一种确定正在测试的测量系统(MSUT)是否匹配包括至少一个其它测量系统的队列的方法,该方法包括如下步骤:基于包括人工制品的MSUT测值与基准测量系统(BMS)对该人工制品的基准测值之间的斜率引起的偏移偏差(SISOffset)、以及对MSUT和BMS进行比较的线性回归分析的非线性(σnon-linearity)的参数组,来计算工具匹配精度(s1);以及确定所述工具匹配精度是否满足匹配阈值(s2),其中,在满足所述匹配阈值的情况下,视为所述MSUT是匹配的。
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