[发明专利]具有像素内处理电路的X射线检测器有效

专利信息
申请号: 200680008325.8 申请日: 2006-03-10
公开(公告)号: CN101142497A 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: G·泽特勒;G·沃格特-迈耶 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01T1/202 分类号: G01T1/202
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 龚海军;刘红
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及一种具有由闪烁层(11)、耦合层(12)和敏感层(13)组成的像素阵列(10)的X射线检测器。耦合层(12)包括光导单元(17)和屏蔽单元(16),其中屏蔽单元(16)置于易受X射线干扰的电子处理电路(15a,15b)上。在可替换实施例中,耦合层由透光并吸收X射线的材料例如铅玻璃组成。优选地,组合在耦合层(12)中的波长转换材料将在闪烁层(11)中所产生光子的波长(λ1)转换为敏感层(13)具有更高灵敏度的值(λ2)。
搜索关键词: 具有 像素 处理 电路 射线 检测器
【主权项】:
1.一种X射线检测器(100,200,300),包括:a)具有至少一个检测器元件的敏感层(13,33,53),包括光敏传感器单元(14,34,54),和易受X射线干扰的处理电路(15a,15b,35a,35b,55);b)将入射X射线(X)转化为光子(λ1,λ2)的闪烁层(11,31,51);c)置于闪烁层(11,31,51)和敏感层(13,33,53)之间的耦合层,耦合层适合于将光从闪烁层(11,31,51)引向传感器单元(14,34,54)并保护处理电路(15a,15b,35a,35b,55)不受X射线的影响。
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