[发明专利]测试装置以及选择装置

摘要

一种测试被测试存储器的测试装置，该被测试存储器具有复数块和修复用列；该测试装置具有：测试部；标志存储器，其存储表示各列是否良好的标志；计数存储器，其存储各列的不良块数；失效写入部，其以至少满足测试结果为不良，以及对应的列的标志存储器内的标志显示不良中的某一方为条件，将显示不良的标志写入标志存储器；计数部，其以测试结果为不良，且对于对应的列，标志存储器内未存储显示不良的标志为条件，累加对应的列的计数存储器的块数量；选择部，其根据各列的不良块数，选择应置换为修复用列的列。

主权项

1.一种测试装置，测试被测试存储器，其特征在于所述被测试存储器包括，各自具有复数列的多个块、以及为了能够成批置换前述多个块中的同一列位置上的全部列而设置的修复用列；所述测试装置包括，测试部，其测试前述被测试存储器的每个块，输出测试对象块的每列是否良好；标志存储器，其与前述测试对象块具有的前述复数列分别对应，存储显示该块的该列是否良好的标志；计数存储器，其与前述复数列分别对应，存储在该列的列位置上有不良的块数；失效写入部，从前述测试部接收的前述测试对象块内的测试对象列的测试结果，以至少满足测试结果为不良，以及与该列对应、在前述标志存储器内存储的前述标志显示不良中的一方为条件，将表示该列不良的前述标志写入前述标志存储器；计数部，从前述测试部接收前述测试对象列的测试结果，以该测试结果为不良，且与该列相对应、在前述标志存储器内并未存储显示不良的前述标志为条件，与该列对应累加前述计数存储器中存储的块数；选择部，其根据前述计数存储器中存储的各列的不良块数，选择应置换为前述修复用列的列。