[发明专利]降低x－射线辐射对植入式医疗设备电路不良影响的方法和器械无效
| 申请号： | 200680010339.3 | 申请日： | 2006-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN101171051A | 公开（公告）日： | 2008-04-30 |
| 发明（设计）人： | W·J·克莱门特;J·D·威尔金森;J·R·伯伊斯曼;G·B·博格丁;藤本广志 | 申请（专利权）人： | 麦德托尼克公司 |
| 主分类号： | A61N1/375 | 分类号： | A61N1/375;A61N1/16;A61N1/37;A61L31/18;G21F1/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈哲锋 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 根据本发明，提供了用于确定x－射线辐射冲击是否会对植入式医疗设备(IMD)潜在易受损离散元件、电路和/或电路通道造成改变或损坏的方法和结构。本发明包括用于从所述潜在易受损元件、电路和/或电路通道偏转x－射线辐射冲击的结构。x－射线辐射可由各种成像形式或未知来源产生。许多IMD可利用本发明的内容，包括例如起搏器、药物递送泵、神经刺激设备、肌肉刺激设备、植入式心复律器－除颤器、皮下除颤器、深部脑刺激器等。 | ||
| 搜索关键词： | 降低 射线 辐射 植入 医疗 设备 电路 不良 影响 方法 器械 | ||
【主权项】：
1.一种保护植入式医疗设备(IMD)工作电路免受x-射线辐射冲击的方法，所述方法包括：确定元件、电路和/或电路通道是否可被x-射线辐射冲击改变或损坏；和将适当尺寸的辐射不透明材料部分置于IMD的外壳与元件、电路和/或电路通道之间。
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