[发明专利]电路布线的干扰分析设备、干扰分析程序以及干扰分析设备所用的数据库、非对称耦合线路模型有效

专利信息
申请号: 200680012593.7 申请日: 2006-04-14
公开(公告)号: CN101160584A 公开(公告)日: 2008-04-09
发明(设计)人: 岩城秀树;小松直树;小掠哲义;山田彻 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;H05K3/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 胡建新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 分析干扰的干扰分析设备包括:输入部(2),输入设计数据;选择部(3),选择分析区域;分割部(5),将布线分割为段;计算部(6),对耦合线路计算电路矩阵;以及分析部(7),求电磁场干扰的程度;计算部(6)用耦合线路的传输线的RLGC参数加上非对称程度参数所得的参数组,来计算上述耦合线路的电路矩阵。由此,能够提供一种电路布线的干扰分析方法,可在维持高精度的同时,大幅度缩短处理时间。
搜索关键词: 电路 布线 干扰 分析 设备 程序 以及 所用 数据库 对称 耦合 线路 模型
【主权项】:
1.一种干扰分析设备,分析设置在电路板上且包含耦合线路的布线间的干扰,其中,包括:输入部,输入表示上述电路板上的布线的布置的设计数据;选择部,选择由上述设计数据表示的上述电路板的至少一部分作为分析区域;分割部,将上述分析区域内的布线分割为计算电路矩阵的单位、即段;计算部,对上述分割部分割出的段中并行相邻的多个段构成的耦合线路、或单个段计算电路矩阵;以及分析部,根据上述电路矩阵,来求上述分析区域中的布线间的电磁场干扰的程度;上述计算部使用在包含上述耦合线路的传输线的电阻(R)、电感(L)、并联电导(G)及静电电容(C)的RLGC参数上、加上表示耦合线路的非对称程度的非对称程度参数所得的参数组,来计算上述耦合线路的电路矩阵。
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