[发明专利]通过后PECVD沉积UV处理增加氮化硅膜的拉伸应力的方法无效
申请号: | 200680014729.8 | 申请日: | 2006-05-18 |
公开(公告)号: | CN101208783A | 公开(公告)日: | 2008-06-25 |
发明(设计)人: | M·柏尔西柳;M·S·考克斯;夏立群;谢美晔;J·李;V·佐泊考伏;黄祖芳;王荣平;I·罗夫烙克斯;H·莫萨德 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/314 | 分类号: | H01L21/314;H01L21/318;H01L21/8234;H01L21/8238;C23C16/34 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陆嘉 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 单独或合并使用一或多种技术,而可在一沉积层中,诸如氮化硅,得致高拉伸应力。要获得高拉伸应力,通过将一表面于无一等离子体状态下曝露于一含硅前导气体以在该表面上形成一含硅层,再将该含硅层曝露于一含氮等离子体以形成氮化硅,然后重复这些步骤以增加由此制作的氮化硅的厚度。要获得高拉伸应力,也可将一表面于一第一含氮等离子体中曝露于一含硅前导气体,再将材质以一第二含氮等离子体进行处理,然后重复这些步骤以增加由此制作的氮化硅的一厚度。在另一实施例中,通过于沉积过程中伴随使用一成孔剂(porogene)而增强膜层的拉伸应力,这些成孔剂在后续曝露于UV辐射或等离子体处理下即被释出。 | ||
搜索关键词: | 通过 pecvd 沉积 uv 处理 增加 氮化 拉伸 应力 方法 | ||
【主权项】:
1.一种形成氮化硅的方法,该方法包含:(i)配置含一表面的基板于一制程室中;(ii)在无等离子体的状态,将位于该制程室的该表面曝露于一含硅之前导气体中,而在该表面上形成一含硅层;(iii)将位于该制程室的该含硅层曝露于一含氮等离子体而形成氮化硅;及重复步骤(ii)-(iii)以增加该氮化硅的一厚度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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