[发明专利]半导体装置、电源装置及信息处理装置无效
申请号: | 200680015164.5 | 申请日: | 2006-06-16 |
公开(公告)号: | CN101171678A | 公开(公告)日: | 2008-04-30 |
发明(设计)人: | 梅本清贵 | 申请(专利权)人: | 罗姆股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/822 | 分类号: | H01L21/822;H01L21/8234;H01L27/04;H01L27/088;H02M3/155 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体装置(100)包括MOS晶体管(10),所述MOS晶体管含有背栅极区“a”、用作源极区和漏极区中之一的第一区“b”、和用作源极区和漏极区中另一个的第二区“c”。该半导体装置还包括输入端子(20),其连接到第一区“b”,并从半导体装置(100)向其施加输入电压;输出端子(30),其连接到第二区“c”,并将输出电压输出到半导体装置之外;以及背栅极控制电路(40),其将输入电压或输出电压施加到背栅极区“a”。利用这种含有输出MOS晶体管的半导体装置的配置,即使在输入和输出端子之间施加反向偏置,端子之间仍彼此绝缘,并且可以抑制衬底偏置效应导致的漏极电流的降低。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 电源 信息处理 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括MOS晶体管,所述MOS晶体管具有背栅极区、用作源极区和漏极区中之一的第一区、以及用作源极区和漏极区中另一个的第二区,所述半导体装置包括:输入电压端子,其连接到第一区,并从半导体装置外部接收输入电压;输出电压端子,其连接到第二区,并将输出电压输出到半导体装置外部;和背栅极控制电路,其在输入电压和输出电压之间选择,并将输入电压和输出电压之一馈送到背栅极区。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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