[发明专利]具有数据旁路路径以允许快速测试和校准的存储器装置和方法无效

专利信息
申请号: 200680015528.X 申请日: 2006-05-04
公开(公告)号: CN101171524A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 詹姆斯·B·约翰逊;特洛伊·A·曼宁 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 代理人: 王允方
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种同步动态随机存取存储器(“SDRAM”)装置包含将来自数据总线的数据耦合到DRAM阵列的管线写入数据路径,和将来自所述阵列的读取数据耦合到所述数据总线的管线读取数据路径。所述SDRAM装置还包含旁路路径,其允许所述写入数据路径中的写入数据直接耦合到所述读取数据路径,而不首先存储在所述DRAM阵列中。优选地通过向所述DRAM装置发布写入命令而经由所述写入数据路径耦合所述写入数据,且优选地通过向所述DRAM装置发布读取命令而经由所述读取数据路径耦合所述读取数据。禁止所述存储器阵列响应这些命令,使得所述写入数据不存储在所述阵列中,且来自所述阵列的读取数据不耦合到所述读取数据路径。
搜索关键词: 具有 数据 旁路 路径 允许 快速 测试 校准 存储器 装置 方法
【主权项】:
1.一种将数据耦合到存储器装置并从存储器装置耦合数据的方法,所述存储器装置具有写入数据路径、读取数据路径以及耦合到所述读取数据路径和所述写入数据路径的存储器阵列,所述方法包括:将数据施加到所述写入数据路径;允许所述数据通过所述写入数据路径朝向所述存储器阵列耦合;将所述数据从所述写入数据路径耦合到所述读取数据路径,而不首先允许将所述数据存储在所述存储器阵列中;以及允许所述数据通过所述读取数据路径而耦合离开所述存储器阵列。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680015528.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top