[发明专利]确定最小操作电压的自测试电路

摘要

用于根据性能/功率要求确定最小操作电压的解决方案将对于广阔范围内的实际使用都有效。该解决方案包括用于通过BIST电路(50)动态降低在应用条件下的功率消耗而保持应用性能的测试流程方法。另外提供了用于在应用条件下动态降低功率消耗到仍将足够维持数据/状态信息的最低的可能待机/很低的功率级的测试流程方法。一种可能的应用被用来控制对ASIC(特定用途集成电路)上的一组特殊电路的电压供应(25)。在电压岛(20)中这些电路被集合成组，接收可能与相同芯片上的其他电路正在接收的电压供应不同的电压供应(25)。能够将相同的解决方案应用于微处理器(例如，高速缓存逻辑电路组)的部分。

主权项

1.一种用于动态改变半导体芯片的最小操作电压的系统，包括：受测电压岛(VIUT)，具有根据特定应用来操作的电路组；受调节的电压源，向所述电压岛的电路组供应电源电压；控制装置，用于设置所述电压岛的电源电压电平；以及内置自测试(BIST)，操作性地耦连到所述受测电压岛，用于测试所述电路组，以确定要为通过的BIST测试提供的、电压岛所需的最低操作电压，并生成表示所述最低操作电压的控制信号，其中，所述控制装置响应于所述控制信号，以将电压岛的所述电压电平设置为所述最低操作电压。